2014年10月18至21日，第五届中国二次离子质谱学会议在北京中国科学院地质与地球物理研究所召开。会议由中国矿物岩石地球化学学会微束分析测试专业委员会发起，中国科学院地质与地球物理研究所岩石圈演化国家重点实验室承办，来自国内外39个单位的150余位代表参加了大会。 

会议组织了会前讲座。10月18日，70多名参会代表、青年科研人员和研究生参加。清华大学查良镇教授、中国科学院地质与地球物理研究所林杨挺研究员和李秋立研究员、香港科技大学翁禄涛教授、台北医科大学麦富德教授、新竹清华大学凌永健教授应邀就二次离子质谱学的原理以及其在地学、材料学及生物医学方面的应用做了系统的报告。 

10月19日上午，第五届中国二次离子质谱学会议正式开幕。李献华研究员主持开幕式，中国科学院地质与地球物理研究所所长、岩石圈演化国家重点实验室主任朱日祥院士致辞，他强调二次离子在地球科学研究中的作用。大会特邀英国国家物理实验室Ian Gilmore教授、德国ION-TOF公司Sven Kayse博士（代表Ewald Niehuis博士）、中国地质科学院地质研究所刘敦一研究员、中国科学院地质与地球物理研究所李献华研究员和中国科学院化学研究所汪福意研究员就SIMS的前沿研究和应用成果做了精彩的大会报告。 

会议期间，来自中国大陆、港台地区以及海外从事二次离子质谱技术和应用的专家、学者和研究生一共做了44场学术报告，与会代表就二次离子质谱的仪器研制、新技术、新方法、新标准研发和应用进行了广泛的交流。 

专业委员会决定，第六届中国二次离子质谱学会议将于2016年在中国科学院大连化学物理研究所召开。 

                                                                             （微束分析测试专业委员会  供稿）